[实用新型]应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置有效
| 申请号： | 201822132408.0 | 申请日： | 2018-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN209016037U | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 王国建;吴剑华 | 申请（专利权）人： | 积高电子（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/68 | 分类号： | H01L21/68;H01L21/66 |
| 代理公司： | 无锡知之火专利代理事务所(特殊普通合伙) 32318 | 代理人： | 陈琦 |
| 地址： | 214161 江苏省无锡市滨湖区胡埭工*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，涉及图像传感器测试机设备领域，包括测试台面；测试台面上设置有用于放置CMOS图像传感器的凹口部；凹口部的口部向外延伸有环状倾斜面；倾斜面的横截面内径大于凹口部的横截面内径。本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，凹口部倾斜面的设置可及时矫正CMOS图像传感器置于凹口部过程中出现的位置偏差，保证CMOS图像传感器准确置入测试台面凹口部中顺利进行测试；辅助定位装置设计结构简单，实用性强，节约企业的投资和运营成本。 | ||
| 搜索关键词： | 凹口部 辅助定位装置 测试台 测试机 本实用新型 测试台面 图像传感器测试 应用 环状倾斜面 设备领域 设计结构 位置偏差 运营成本 口部 置入 矫正 测试 节约 延伸 保证 投资 | ||
【主权项】：
1.一种应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，包括测试台面；所述测试台面上设置有用于放置CMOS图像传感器的凹口部，其特征在于，所述凹口部的口部向外延伸有环状倾斜面；所述倾斜面的横截面内径大于所述凹口部的横截面内径。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
