[实用新型]一种电容测试电路有效
申请号: | 201821331016.0 | 申请日: | 2018-08-17 |
公开(公告)号: | CN209070021U | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 张俊;张杨 | 申请(专利权)人: | 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所) |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人: | 李佳俊;郭国中 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供了一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。本实用新型电路结构简单、成本低廉,直接利用高温老化板作为电容测试用的载体,无需将电容从高温老化板上拆卸,避免了多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果,提高测试结果的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 电容 多路开关控制器 高温老化 测试仪 漏电流 电容测试电路 本实用新型 通信线缆 计算机 测试线缆 电路结构 电容测试 拆装 拆卸 遗失 | ||
【主权项】:
1.一种电容测试电路,其特征在于,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所),未经华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821331016.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种测量超导磁体交流损耗的装置
- 下一篇:一种工频电磁场监测仪组件装置