[实用新型]一种电容测试电路有效

专利信息
申请号: 201821331016.0 申请日: 2018-08-17
公开(公告)号: CN209070021U 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 张俊;张杨 申请(专利权)人: 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提供了一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。本实用新型电路结构简单、成本低廉,直接利用高温老化板作为电容测试用的载体,无需将电容从高温老化板上拆卸,避免了多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果,提高测试结果的可靠性。
搜索关键词: 电容 多路开关控制器 高温老化 测试仪 漏电流 电容测试电路 本实用新型 通信线缆 计算机 测试线缆 电路结构 电容测试 拆装 拆卸 遗失
【主权项】:
1.一种电容测试电路,其特征在于,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。
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