[实用新型]一种电容测试电路有效

专利信息
申请号: 201821331016.0 申请日: 2018-08-17
公开(公告)号: CN209070021U 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 张俊;张杨 申请(专利权)人: 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电容 多路开关控制器 高温老化 测试仪 漏电流 电容测试电路 本实用新型 通信线缆 计算机 测试线缆 电路结构 电容测试 拆装 拆卸 遗失
【说明书】:

本实用新型提供了一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。本实用新型电路结构简单、成本低廉,直接利用高温老化板作为电容测试用的载体,无需将电容从高温老化板上拆卸,避免了多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果,提高测试结果的可靠性。

技术领域

本实用新型涉及电子电路领域,具体地,涉及一种电容测试电路。

背景技术

电容是电子电器设备使用最广泛的基础电子元器件之一,广泛应用于电路中的隔直、通交、耦合、旁路、滤波等方面,几乎所有的电子电器设备都需要使用电容。

随着工业技术的飞速发展,电子电器设备对电容的数量和质量需求越来越高。特别是在军用设备领域,对于电容的筛选测试工作是必不可少的,电容的质量直接影响到武器装备的可靠性,因此国家对电容器的测试需求越来越高。在电容测试之前需要进行电容高温老化试验,试验完成以后,需要将电容从高温老化板上拆卸下来,然后对电容进行测试。该过程不仅繁琐,而且多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果,并且受到很多人为的不可控因素干扰,导致测试可靠性严重降低。显然目前的测试手段已经无法满足电容测试的需求。

实用新型内容

针对现有技术中的缺陷,本实用新型的目的是提供一种电容测试电路。

根据本实用新型提供的一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;

所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。

较佳的,所述第一通信线缆包括RS232通讯线缆。

较佳的,所述第二通信线缆包括GPIB线缆。

较佳的,所述高温老化板包括10个单元,每个单元包括16个电容安装部,每个单元中安装的16个待测电容共地连接。

较佳的,所述多路开关控制器包括160路开关电路和170根探针,其中160根探针与160路开关电路一一对应连接,且160根探针分别压在一个所述电容安装部中待测电容的顶端,另外10根探针分别连接一个所述单元,作为待测电容的底端。

根据本发明提供的一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;

所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器;

所述高温老化板包括10个单元,每个单元包括16个电容安装部,每个单元中安装的16个待测电容共地连接;

所述多路开关控制器包括160路开关电路和170根探针,其中160根探针与160路开关电路一一对应连接,且160根探针分别压在一个所述电容安装部中待测电容的顶端,另外10根探针分别连接一个所述单元,作为待测电容的底端。

较佳的,所述第一通信线缆包括RS232通讯线缆。

较佳的,所述第二通信线缆包括GPIB线缆。

与现有技术相比,本实用新型具有如下的有益效果:

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