[发明专利]温度特性评价方法在审
申请号: | 201811625116.9 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN109991153A | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 吉田英敏 | 申请(专利权)人: | 长野科学株式会社 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00;F24F11/30;F24F11/62 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种温度特性评价方法,能够低成本且高可靠性地对环境试验装置的内部空间的温度特性进行评价。获取设定温度数据、周围温度数据及内部温度数据。变更设定温度和周围温度中的至少一方,来获得多个设定温度数据、周围温度数据以及内部温度数据的组合并设为多个温度数据组。针对多个温度数据组中的各温度数据组,计算周围温度数据与设定温度数据之差并设为第一差(Δx)。计算内部温度数据与设定温度数据之差并设为第二差(Δy)。获得第一差与第二差的组合并设为差组。用一次函数对针对多个温度数据组的多个差组进行近似,获得该一次函数并设为性能函数(Fi)。使用性能函数Fi进行与环境试验装置的内部空间的温度特性有关的评价。 | ||
搜索关键词: | 温度数据 温度特性 内部温度数据 环境试验装置 一次函数 差组 变更设定 高可靠性 使用性能 性能函数 低成本 近似 | ||
【主权项】:
1.一种温度特性评价方法,用于针对环境试验装置评价内部空间的温度特性,其中,所述环境试验装置具有所述内部空间,并且进行动作使得所述内部空间的温度维持预先决定的设定温度,所述温度特性评价方法包括以下步骤:第一步骤,利用计算机从内置于所述环境试验装置中的控制器获取所述环境试验装置的设定温度并将其设为设定温度数据,利用所述计算机获取由第一温度传感器获得的周围温度数据,该第一温度传感器设置于设置有所述环境试验装置的空间内,获得该空间的温度即周围温度而得到周围温度数据,并且利用所述计算机获取由第二温度传感器获得的内部温度数据,该第二温度传感器设置于所述内部空间内,获得该空间的内部温度而得到内部温度数据;第二步骤,所述计算机通过变更设定温度和周围温度中的至少一方并与所述第一步骤同样地获取设定温度数据、周围温度数据以及内部温度数据,来获取多个设定温度数据、周围温度数据以及内部温度数据的组合并将其设为多个温度数据组;第三步骤,利用所述计算机针对所述多个温度数据组中的各个温度数据组,计算周围温度数据与设定温度数据之差并将其设为第一差,并且计算内部温度数据与设定温度数据之差并将其设为第二差,获得所计算出的第一差与第二差的组合并将其设为差组;第四步骤,由所述计算机用一次函数对针对所述多个温度数据组的多个差组进行近似,获得所述一次函数并将其设为性能函数;以及第五步骤,使用所述性能函数来进行与所述环境试验装置的内部空间的温度特性有关的评价。
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