[发明专利]测量磁性岩体中岩层走向、倾向的方法在审
| 申请号： | 201811512652.8 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109579775A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 覃敏;唐绍辉;焦文宇;刘畅;赵聪聪 | 申请（专利权）人： | 长沙矿山研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01C15/00 |
| 代理公司： | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙) 43001 | 代理人： | 邓淑红 |
| 地址： | 410012 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量磁性岩体中岩层走向、倾向的方法，该方法包括以下步骤：步骤一、绘制现场工程实测图，在工程实测图上标识岩层的走向方向；步骤二、在工程实测图上找出待测岩层的正北方向；步骤三、以正北方向为基准、确定岩层的走向方向的方位角，该方位角为岩层走向；步骤四、确定岩层的倾向方向，岩层倾向与岩层走向恒垂直，确定岩层倾向对应的方位角。可以有效的避免磁场对于测量的影响，能够准确的测量出岩层走向和岩层倾向。 | ||
| 搜索关键词： | 岩层 岩层倾向 岩层走向 方位角 测量磁性 工程实测 正北方向 中岩层 岩体 测量 倾向方向 现场工程 实测 磁场 垂直 绘制 | ||
【主权项】：
1.一种测量磁性岩体中岩层走向、倾向的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一、绘制现场工程实测图，在工程实测图上标识岩层的走向方向；步骤二、在工程实测图上标识待测岩层的正北方向；步骤三、以正北方向为基准、确定岩层的走向方向的方位角，该方位角为岩层走向；步骤四、确定岩层的倾向方向，岩层倾向与岩层走向恒垂直，确定岩层倾向对应的方位角。
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