[发明专利]超导材料低温微波表面电阻测试装置及方法有效
| 申请号： | 201811421770.8 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110068732B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 董超;沙鹏;曾成;张详振;徐妙富 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所;成都特锐迈思科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 100040 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种超导材料低温微波表面电阻多模测试装置以及方法，该装置包括圆柱形金属腔体以及填充于金属腔体中的介质材料，金属腔体底面设有样品孔，样品孔的中心轴位于金属腔体底面的中心。利用上述测试装置测试微波表面电阻的多模测试方法，包括以下步骤：S1、将高纯铌置于样品孔中，分别测量出TE |
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| 搜索关键词： | 超导 材料 低温 微波 表面电阻 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种超导材料低温微波表面电阻多模测试装置，其特征在于：该测试装置包括圆柱形金属腔体(3)，以及填充于所述金属腔体(3)中的介质材料(4)，所述金属腔体(3)底面设有样品孔，所述样品孔的中心轴位于金属腔体(3)底面的中心。
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