[发明专利]测距精度校准系统有效

专利信息
申请号: 201811203462.8 申请日: 2018-10-16
公开(公告)号: CN109001713B 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 秦屹;韩晨阳;林建东;李军建;贾浩男;马慧 申请(专利权)人: 森思泰克河北科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 李荣文
地址: 050200 河北省石家庄*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明提供了一种测距精度校准系统,所述系统包括:待测激光雷达、反射板、第一电机、微控制器;所述待测激光雷达与所述微控制器连接,并固定于与所述反射板等高的位置,所述第一电机与所述反射板连接;所述第一电机带动所述反射板在垂直于所述待测激光雷达发射光路的方向上运动,所述待测激光雷达经发射透镜发射激光光束至所述反射板,所述激光光束经所述反射板反射后得到第一反射激光光束,所述待测激光雷达经接收透镜接收所述第一反射激光光束,所述微控制器对所述待测激光雷达发射的所述激光光束和接收的所述第一反射激光光束的工作参数进行采集和校准。本发明提供的测距精度校准系统能够提高校准效率。
搜索关键词: 测距 精度 校准 系统
【主权项】:
1.一种测距精度校准系统,其特征在于,包括:待测激光雷达、反射板、第一电机、微控制器;所述待测激光雷达与所述微控制器连接,并固定于与所述反射板等高的位置,所述第一电机与所述反射板连接;所述第一电机带动所述反射板在垂直于所述待测激光雷达发射光路的方向上运动,所述待测激光雷达经发射透镜发射激光光束至所述反射板,所述激光光束经所述反射板反射后得到第一反射激光光束,所述待测激光雷达经接收透镜接收所述第一反射激光光束,所述微控制器对所述待测激光雷达发射的所述激光光束和接收的所述第一反射激光光束的工作参数进行采集和校准。
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