[发明专利]具等向性转换函数之量化微分相位衬度显微系统

摘要

一种具等向性转换函数之量化微分相位衬度显微系统，其系透过一机制使侦测光场具有沿特定轴向或径向之光强度梯度分布，并经由聚光透镜产生一离轴光场投射至一待测物上，进而产生一测物光场，透过物镜导引至图像捕获设备，产生相应的图像。该相应的图像经由微分相位衬度运算得到相应位置的相位，进而根据相位得知相应位置之深度信息，进而重建物体表面形貌。

主权项

1.一种具等向性转换函数之量化微分相位衬度显微系统，包括有：一光源，用以产生一入射光场；一光强度调制模块，用以根据一控制信号产生沿着径向具有光振幅梯度变化的至少一调制图案来调制该入射光场，使该入射光场形成一侦测光场；一聚光透镜，设置于该光强度调制模块之一侧，使得该光强度调制模块位于该聚光透镜之傅立叶平面上，该聚光透镜用以接收该侦测光场，并产生一离轴光场投射至一待测物上，进而产生一测物光场；一物镜，设置于该聚光透镜之一侧，使该待侧物位于该物镜之焦距上，该物镜接收该测物光场；以及一图像采集模块，与该物镜耦接，用以接收该测物光场，而产生相应该光振幅梯度变化的一光学图像。