[发明专利]一种畸变参数测量方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201811178302.2 | 申请日： | 2018-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN109191374B | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 薛鸿臻;马福强;楚明磊;孙建康;尹国冰;董泽华;陈丽莉 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T3/00 | 分类号： | G06T3/00;G06T5/00;G06T19/00 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种畸变参数测量方法、装置及系统，用于测量显示设备的畸变参数，所述显示设备包括显示屏以及位于所述显示屏出光侧的透镜，其中，所述畸变参数测量方法根据第一畸变图像上满足预设条件的第二角点以及对应初始图像上的第一角点，确定显示设备的畸变参数，这种畸变参数测量方法不需要人工盲调，使畸变参数的测量更加简便，并且这种测量方法可以准确计算出显示设备上多个点的畸变参数，提高测量效率，进而可以提高畸变校正的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 畸变 参数 测量方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种畸变参数测量方法，用于测量显示设备的畸变参数，所述显示设备包括显示屏以及位于所述显示屏出光侧的透镜，其特征在于，所述测量方法包括：获取初始图像经过所述透镜后的第一畸变图像，所述初始图像为所述显示屏显示的图像，所述初始图像包括多个第一角点，所述第一畸变图像包括多个与所述第一角点对应的第二角点；根据所述第二角点以及对应的第一角点，确定所述显示设备的畸变参数。
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