[发明专利]一种基于分型维数的共轭曲面接触线分布定量评价方法在审

专利信息
申请号: 201811069139.6 申请日: 2018-09-13
公开(公告)号: CN109408872A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 孙维方;向家伟;周余庆;钟永腾 申请(专利权)人: 温州大学苍南研究院
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 温州名创知识产权代理有限公司 33258 代理人: 陈加利
地址: 325000 浙江省温州市苍南县*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了方法一种基于分型维数的共轭曲面接触线分布定量评价方法,包括以下步骤,S1:将接触线离散为二维点群;S2:通过正方形网格将目标区域划分成若干个边长相等的单元,并计算点群目标所占据的网格数N(w);S3:改变正方形网格边长w的大小,重新计算点群目标所占据的网格数N(w);S4:通过建立两组序列线性回归方程并计算其直线斜率。本发明的有益效果是利用分维值对接触线点群的分布情况进行定量评价,有利于进行共轭曲面的迭代优化算法应用。
搜索关键词: 接触线 定量评价 点群 正方形网格 共轭曲面 边长 网格 分型 维数 迭代优化算法 回归方程 目标区域 序列线性 直线斜率 重新计算 计算点 群目标 占据 二维 共轭 两组 相等 应用
【主权项】:
1.一种基于分型维数的共轭曲面接触线分布定量评价方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,将共轭曲面接触线离散为二维点群,其算法为:Pi=((x0+iΔx),k(x0+iΔx)+b)其中,Pi为直线离散后的二维点群,k为直线斜率,x0为定义域起始数值,i为离散点序号,Δx为离散化步距,b为直线截距;步骤2,通过正方形网格将目标区域划分成若干个边长相等的单元,并计算点群目标所占据的网格数N(w),其算法为:其中,Num为点群目标所占据的网格数N(w),N(x,y)为行为x、列为y的单元网格;步骤3,改变正方形网格边长w的大小,重新计算点群目标所占据的网格数N(w);步骤4,通过建立两组序列线性回归方程(log(w),log(N(w)))并计算其直线斜率,则直线斜率即为其分维值,其算法为:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于温州大学苍南研究院,未经温州大学苍南研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811069139.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top