[发明专利]倒漏斗形硅基实心微针阵列的制备方法有效

专利信息
申请号: 201810941632.6 申请日: 2018-08-17
公开(公告)号: CN109173039B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 朱五林;李宝庆;谢兰胜;吕庆贵 申请(专利权)人: 安徽中鼎玉铉新材料科技有限公司
主分类号: A61M37/00 分类号: A61M37/00
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 田怡春
地址: 230041 安徽省合肥市包*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提出一种倒漏斗形硅基实心微针阵列的制备方法,包括以下步骤:1)在单晶硅片上沉积正面氮化硅保护膜和反面氮化硅保护膜;2)在正面氮化硅保护膜上旋涂光刻胶进行光刻,光刻后的光刻胶形成阵列状的圆形遮挡胶膜;3)干法刻蚀掉暴露在遮挡胶膜外的正面氮化硅保护膜,露出单晶硅片;4)利用电感耦合等离子体刻蚀系统,采用深硅刻蚀Bosch工艺,对单晶硅片进行各向异性刻蚀,在单晶硅片上刻蚀出阵列状的圆柱体;5)去除单晶硅片上遮挡胶膜;6)利用酸性腐蚀液对单晶硅片进行各向同性湿法腐蚀,得到微针阵列。本发明可实现高深宽比、针尖直径与长度可控的倒漏斗形结构的实心微针阵列加工。
搜索关键词: 漏斗 形硅基 实心 阵列 制备 方法
【主权项】:
1.一种倒漏斗形硅基实心微针阵列的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:1)选取(100)晶面、双面抛光单晶硅片,在单晶硅片的正面沉积正面氮化硅保护膜,在单晶硅片的反面沉积反面氮化硅保护膜;2)在正面氮化硅保护膜上旋涂光刻胶,利用光刻工艺将掩模板图形转移到光刻胶上,掩膜版的图形为阵列状的圆形斑点,光刻后的光刻胶形成阵列状的圆形遮挡胶膜;3)干法刻蚀掉暴露在遮挡胶膜外的正面氮化硅保护膜,露出单晶硅片;4)利用电感耦合等离子体刻蚀系统,采用深硅刻蚀Bosch工艺,对步骤3露出的单晶硅片进行各向异性刻蚀,在单晶硅片上刻蚀出阵列状的圆柱体;5)去除单晶硅片上遮挡胶膜;6)利用酸性腐蚀液对步骤5后的单晶硅片进行各向同性湿法腐蚀,得到微针阵列。
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