[发明专利]一种漏点探漏效果的评估方法有效
| 申请号： | 201810669226.9 | 申请日： | 2018-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN109027700B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 刘书明;郭冠呈;吴雪;仲丽娟;温鹏;蒋伟 | 申请（专利权）人： | 清华大学;成都市兴蓉环境股份有限公司 |
| 主分类号： | F17D5/02 | 分类号： | F17D5/02 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 张文宝 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种漏点探漏效果的评估方法，包括收集暗漏点信息，并对所述收集的暗漏点信息进行预处理；确定漏点生长函数；根据漏点生长函数确定暗漏点和背景漏点；计算不同探漏周期内的暗漏点和背景漏点数；计算探漏系数，探漏系数＝暗漏漏点数/(暗漏漏点数+背景漏点数)，以及计算历史探漏周期的平均探漏系数P；评估不同探漏周期的探漏效果：若本次探漏周期内探漏系数高于P，说明探漏工作效果好；若探漏系数低于P，说明探漏工作效果差。本发明的方法还包括计算不同区域内的漏点分布情况，评估不同区域的探漏效果，以及预测下一个探漏周期可能存在的漏点数，制定探漏工作计划。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 漏点探漏 效果 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种漏点探漏效果的评估方法，其特征在于该方法包括如下步骤：收集暗漏点信息，并对所述收集的暗漏点信息进行预处理；确定漏点生长函数；根据漏点生长函数确定暗漏点和背景漏点；计算不同探漏周期内的暗漏点和背景漏点数；计算探漏系数，探漏系数＝暗漏漏点数/(暗漏漏点数+背景漏点数)，以及计算历史探漏周期的平均探漏系数P；评估不同探漏周期的探漏效果：若本次探漏周期内探漏系数高于P，说明探漏工作效果好；若探漏系数低于P，说明探漏工作效果差。
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