[发明专利]一种磁共振系统的匀场方法和装置有效

专利信息
申请号: 201810650077.1 申请日: 2018-06-22
公开(公告)号: CN110632541B 公开(公告)日: 2021-12-28
发明(设计)人: 汤洪明 申请(专利权)人: 上海尚磁机电科技有限公司
主分类号: G01R33/387 分类号: G01R33/387
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 上海市嘉定区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种磁共振系统的匀场方法。该匀场方法包括:采集均匀区内多个采样点匀场前的磁场强度;获取各阶匀场线圈的单位电流磁场贡献量;根据各阶匀场线圈的匀场电流、多个采样点匀场前的磁场强度以及各阶匀场线圈的单位电流磁场贡献量确定理论匀场磁场分布;构建线性规划模型并获取各阶匀场线圈的匀场电流。本发明采用线性规划模型进行匀场,无需构建磁场回归方程,解决了现有的构建磁场回归方程的主动匀场方法得到的匀场电流误差大、磁场均匀度差的问题,达到了匀场电流偏差更小、磁共振系统的均匀度更好的效果。
搜索关键词: 一种 磁共振 系统 方法 装置
【主权项】:
1.一种磁共振系统的匀场方法,其特征在于,该匀场方法包括:/n采集均匀区内多个采样点匀场前的磁场强度;/n获取各阶匀场线圈的单位电流磁场贡献量;/n根据各阶匀场线圈的匀场电流、多个采样点匀场前的磁场强度以及各阶匀场线圈的单位电流磁场贡献量确定理论匀场磁场分布;/n根据所述理论匀场磁场分布构建线性规划模型并获取各阶匀场线圈的匀场电流,所述线性规划模型的目标函数为预设目标值的最大值或最小值;所述线性规划模型的约束条件包括每个所述采样点的理论匀场磁场分布与匀场后的理论平均磁场的偏差小于或等于所述预设目标值,所述匀场电流小于或等于所述匀场线圈可承载的最大电流。/n
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