[发明专利]自动化点源透过率杂散光测试系统及方法有效
| 申请号： | 201810603452.7 | 申请日： | 2018-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN108982061B | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 汪洪源;刘祥;康文;颜志强;王秉文;郭雨桐;武少冲 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 毕雅凤 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 自动化点源透过率杂散光测试系统及方法，涉及杂散光测试技术领域，为了解决采用手动操作测试系统测量点源透过率，测量精度低、效率低的问题。脉冲激光器出射的激光经光束整形器整形后入射至平行光管，激光经平行光管准直后入射至旋转台上的待测光学系统；第一探测系统位于待测光学系统的入瞳处，且固定在平移机构上；第二探测系统位于待测光学系统的焦面处，且位于旋转台上；第一探测系统和第二探测系统均用于测量辐照度，信号采集系统采集测量结果并将测量结果发送给计算机；计算机用于接收测量结果并计算点源透过率，还用于控制平移机构、旋转台和信号采集系统实现点源透过率的自动化测量。本发明适用于测试点源透过率。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 透过 散光 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.自动化点源透过率杂散光测试系统，其特征在于，包括脉冲激光器(1)、光束整形器(2)、平行光管(3)、第一探测系统(4)、平移机构(5)、旋转台(6)、第二探测系统(7)、信号采集系统(8)、计算机(9)和暗室(10)；脉冲激光器(1)出射的激光经光束整形器(2)整形后入射至平行光管(3)，激光经平行光管(3)准直后入射至旋转台(6)上的待测光学系统(11)；第一探测系统(4)位于待测光学系统(11)的入瞳处，且固定在平移机构(5)上；第二探测系统(7)位于待测光学系统(11)的焦面处，且位于旋转台(6)上；第一探测系统(4)和第二探测系统(7)均用于测量辐照度，信号采集系统(8)采集测量结果并将测量结果发送给计算机(9)；计算机(9)，用于接收测量结果并计算点源透过率；还用于控制平移机构(5)、旋转台(6)和信号采集系统(8)实现点源透过率的自动化测量；第一探测系统(4)、平移机构(5)、旋转台(6)、第二探测系统(7)、信号采集系统(8)和待测光学系统(11)均位于暗室(10)内。
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