[发明专利]剥离装置在审
申请号: | 201810587323.3 | 申请日: | 2018-06-08 |
公开(公告)号: | CN109119371A | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 清原恒成;广内大资 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 于靖帅;乔婉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供剥离装置,能够不在晶片的外周部分残留树脂而将保护部件适当地从晶片剥离。剥离装置(1)将借助树脂(R)使膜粘固在晶片(W)的一个面上而成的保护部件(P)从晶片剥离。剥离装置具有:外周剥离单元(4),其残留保护部件的外周的一部分而将保护部件从晶片剥离;以及整体剥离单元(5),其将保护部件整体从晶片剥离。整体剥离单元具有:把持部(50),其对未被外周剥离单元剥离而残留的外周的一部分进行把持;以及辊部(52b),其对保护部件的下表面中央部分进行推压。整体剥离单元一边利用辊部将保护部件的中央部分朝向晶片推压,一边将保护部件全部剥离。 | ||
搜索关键词: | 保护部件 剥离单元 外周 剥离装置 晶片剥离 晶片 残留 树脂 推压 剥离 把持部 下表面 把持 辊部 粘固 | ||
【主权项】:
1.一种剥离装置,其将在形成有使膜从晶片的外周缘探出而成的探出部的状态下借助树脂使该膜粘固在晶片的一个面上从而由该树脂和该膜构成的保护部件从晶片剥离,其中,该剥离装置具有:保持单元,其具有对晶片的另一个面进行吸引保持的保持面,其中,使该保护部件朝下从而该晶片的另一个面成为上表面;外周剥离单元,其对该探出部进行把持,残留外周的一部分而将该保护部件的外周部分从晶片剥离;以及整体剥离单元,其对残留的该外周的一部分的该探出部进行把持,从该保护部件的外周部分侧将该保护部件整体从晶片剥离,该整体剥离单元具有:第一把持部,其对未被该外周剥离单元剥离而残留的该外周的一部分的该探出部进行把持;辊,其对未被该外周剥离单元剥离而粘固在晶片上的该保护部件的中央部分进行推压;以及移动单元,其使该第一把持部与该保持单元在保持面方向上相对地移动,一边利用该辊将该保持单元所保持的晶片的中央部分的该保护部件朝向晶片推压,一边将该保护部件从晶片完全剥离。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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