[发明专利]一种电路板缺陷的主动智能检测方法及其应用在审
| 申请号： | 201810549271.0 | 申请日： | 2018-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN108830840A | 公开（公告）日： | 2018-11-16 |
| 发明（设计）人： | 陈荣 | 申请（专利权）人： | 江苏华鹰光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/62 |
| 代理公司： | 南京先科专利代理事务所(普通合伙) 32285 | 代理人： | 缪友益 |
| 地址： | 210000 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种电路板缺陷的主动智能检测方法，包括如下步骤：(1)构建复合探测模块；(2)根据电路板类型和检测要求进行电路板缺陷检测，形成缺陷图像；(3)对获取的全部缺陷图像进行复合；(4)对融合定位后的各缺陷图像进行自主判断分析电路板或芯片中的表面和内部的缺陷，形成统一的空间缺陷图像；(5)输出形成的空间缺陷图像。本发明的电路板缺陷检测方法具有多种不同类型的探测传感器，根据电路板的类型不同能够自主选择任意一组外观缺陷探测器和内部缺陷探测器，再将不同的缺陷图像进行融合，计算出缺陷特征，并形成空间缺陷图像输出，达成电路板在线全面体检的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 缺陷图像 空间缺陷 缺陷检测 智能检测 图像 探测器 复合 电路板类型 探测传感器 内部缺陷 缺陷特征 探测模块 外观缺陷 自主选择 输出 融合 构建 体检 芯片 检测 应用 分析 统一 | ||
【主权项】：
1.一种电路板缺陷的主动智能检测方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)构建由若干组外观缺陷探测器和内部缺陷探测器组成的复合探测模块；(2)根据电路板类型和检测要求选择至少一组外观缺陷探测器和一组内部缺陷探测器进行电路板缺陷检测，分别形成缺陷图像；(3)对步骤(2)获取的全部缺陷图像进行复合，将多视觉融合定位；(4)对融合定位后的各缺陷图像进行自主判断分析电路板或芯片中的表面和内部的缺陷，并进行空间缺陷数据融合建模，形成统一的空间缺陷图像；(5)输出形成的空间缺陷图像，并可视化显示。
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