[发明专利]一种位置解析度测量方法及装置有效
| 申请号： | 201810543090.7 | 申请日： | 2018-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN108762567B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 林行;周敬禹;严木彬;洪致宏;张哲明 | 申请（专利权）人： | 北京硬壳科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京尚伦律师事务所 11477 | 代理人： | 刘超 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种位置解析度测量方法及装置，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；所述方法包括：确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度。通过该技术方案，可以测量触控面板的位置解析度，以便于根据触控面板的位置解析度进行对应的触控操作，减少无效操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 位置 解析度 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种位置解析度测量方法，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；所述方法包括：确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度。
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