[发明专利]基于结构光成像的键盘键帽平整度快速测量方法与装置有效
| 申请号： | 201810467785.1 | 申请日： | 2018-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN108562250B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 肖昌炎;缪慧司;周苹;谭立春;张可惠 | 申请（专利权）人： | 湖南大学 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 周长清 |
| 地址： | 410082 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明一种基于结构光成像的键盘键帽平整度快速测量方法及装置，该方法的步骤为：步骤S1：结构光模式设计及投影，产生的结构光在待测键盘各按键键帽表面上下两端各存在一条清晰的光条纹；步骤S2：多台相机采集图像序列；接收到检测信号后，相机采集已被结构光编码的键盘图像序列；步骤S3：图像拼接；将图像序列拼接成一幅完整的全尺寸键盘图像；步骤S4：键帽建模；依靠人工获得键帽掩模和键盘图像中各键帽的位置信息；步骤S5：利用平整度算法检测算法，用以实现快速检测键盘各键帽平整度。该装置用来实施上述方法。本发明具有自动化程度高、检测效率高、易实现、易维护等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 结构 成像 键盘 平整 快速 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于结构光成像的键盘键帽平整度快速测量方法，其特征在于，步骤为：步骤S1：结构光模式设计及投影，产生的结构光在待测键盘各按键键帽表面上下两端各存在一条清晰的光条纹；步骤S2：多台相机采集图像序列；接收到检测信号后，相机采集已被结构光编码的键盘图像序列；步骤S3：图像拼接；将图像序列拼接成一幅完整的全尺寸键盘图像；步骤S4：键帽建模；依靠人工获得键帽掩模和键盘图像中各键帽的位置信息；步骤S5：利用平整度算法检测算法，用以实现快速检测键盘各键帽平整度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南大学，未经湖南大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810467785.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种平面度检测装置中的探头
- 下一篇：一种实现斜孔槽检测的线性工业机器人机构
