[发明专利]特征选择方法及装置有效
| 申请号： | 201810401774.3 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN108681697B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 罗娜;韩平;王冬;王世芳 | 申请（专利权）人： | 北京农业质量标准与检测技术研究中心 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 100097 北京市海淀区曙光*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种特征选择方法及装置，能实现用于光谱无损检测中目标物测定的特征的选择，具有较好的鲁棒性和稳定性。方法包括：S1、获取样品的光谱数据集；S2、对所述光谱数据集进行第一数量次采样，获得所述第一数量个样本空间，对于每一个样本空间，利用该样本空间构建一个偏最小二乘定量分析模型，并基于该偏最小二乘定量分析模型对该样本空间所对应的特征进行重要性排序；S3、根据所述第一数量个样本空间对应的特征的重要性排序结果对所述第一数量个样本空间对应的特征进行排序，得到特征排序结果，基于所述特征排序结果确定特征选择数量，并按照所述特征排序结果选择前所述特征选择数量个特征作为目标特征。 | ||
| 搜索关键词： | 特征 选择 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种特征选择方法，其特征在于，包括：S1、获取样品的光谱数据集，其中，所述样品的光谱数据集包括特定数量的样品的光谱数据，以及所述样品中目标物的含量；S2、对所述光谱数据集进行第一数量次采样，获得所述第一数量个样本空间，对于每一个样本空间，利用该样本空间构建一个偏最小二乘定量分析模型，并基于该偏最小二乘定量分析模型对该样本空间所对应的特征进行重要性排序；S3、根据所述第一数量个样本空间对应的特征的重要性排序结果对所述第一数量个样本空间对应的特征进行排序，得到特征排序结果，基于所述特征排序结果确定特征选择数量，并按照所述特征排序结果选择前所述特征选择数量个特征作为目标特征。
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