[发明专利]样本晶体颗粒检测系统及方法

摘要

本发明公开了一种样本晶体颗粒检测系统及方法，包括控制器，M个样本晶体颗粒发生器，恒流恒压装置，M个盛有晶体颗粒载体油的导热容器，与1个导热容器底部连接的晶体颗粒采集装置，晶体颗粒光路检测器，位于晶体颗粒光路检测器一侧并依次排列的若干个波长依次增大的激光器，设于各个激光器的出光口的激发光滤光组件，位于晶体颗粒光路检测器另一侧的接收光滤光组件，与接收光滤光组件连接的光电信号采集器，PC机和温控装置。本发明具有各波段光路之间不会产生串光现象，采用上压下排式结构，芯片内不会残留死体积的特点。

主权项

1.一种样本晶体颗粒检测系统，其特征是，包括控制器，M个样本晶体颗粒发生器(11)，恒流恒压装置(302)，M个盛有晶体颗粒载体油的导热容器(15)，与1个导热容器底部连接的晶体颗粒采集装置(303)，晶体颗粒光路检测器(306)，位于晶体颗粒光路检测器一侧并依次排列的若干个波长依次增大的激光器(304)，设于各个激光器的出光口的激发光滤光组件(305)，位于晶体颗粒光路检测器另一侧的接收光滤光组件(307)，与接收光滤光组件连接的光电信号采集器(308)，PC机和温控装置(310)，M＞1；晶体颗粒采集装置包括与1个导热容器连接的采集针头(3031)和与采集针头连接的采集毛细管(3032)；所述样本晶体颗粒发生器下部位于对应的导热容器中，晶体颗粒载体油的液面的高度高于样本晶体颗粒发生器的各个微流道所处的高度，恒流恒压装置与1个样本晶体颗粒发生器连接，采集毛细管与晶体颗粒光路检测器一端连接，控制器分别与恒流恒压装置、温控装置、各个激光器、光电信号采集器和PC机电连接，光电信号采集器和PC机电连接。