[发明专利]精密圆度测量装置与方法在审
| 申请号： | 201810361572.0 | 申请日： | 2018-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN108548500A | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 曹华丽;刘明宇 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙) 44451 | 代理人： | 罗志伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种精密圆度测量装置，包括圆度测量模块，所述圆度测量模块包括机械连接件、窄带光源、CCD/CMOS采集芯片、CCD/CMOS信号处理电路单元、微处理器及数据传输接口电路，其中，所述窄带光源固定在所述机械连接件的一侧，所述CCD/CMOS采集芯片固定在所述机械连接件的另一侧，所述窄带光源投射平行窄带光至所述CCD/CMOS采集芯片，所述CCD/CMOS采集芯片与所述CCD/CMOS信号处理电路单元电连接，所述CCD/CMOS信号处理电路单元与所述微处理器及数据传输接口电路电连接。本发明还提供了一种精密圆度测量方法。本发明的有益效果是：具有高精度，高效率，低成本而且通用性强的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 采集芯片 信号处理电路单元 机械连接件 圆度测量 窄带光源 数据传输接口电路 精密 圆度测量装置 微处理器 电连接 通用性强 低成本 高效率 窄带光 投射 平行 | ||
【主权项】：
1.一种精密圆度测量装置，其特征在于：包括圆度测量模块，所述圆度测量模块包括机械连接件、窄带光源、CCD/CMOS采集芯片、CCD/CMOS信号处理电路单元、微处理器及数据传输接口电路，其中，所述窄带光源固定在所述机械连接件的一侧，所述CCD/CMOS采集芯片固定在所述机械连接件的另一侧，所述窄带光源投射平行窄带光至所述CCD/CMOS采集芯片，所述CCD/CMOS采集芯片与所述CCD/CMOS信号处理电路单元电连接，所述CCD/CMOS信号处理电路单元与所述微处理器及数据传输接口电路电连接。
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