[发明专利]精密圆度测量装置与方法在审
| 申请号： | 201810361572.0 | 申请日： | 2018-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN108548500A | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 曹华丽;刘明宇 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙) 44451 | 代理人： | 罗志伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 采集芯片 信号处理电路单元 机械连接件 圆度测量 窄带光源 数据传输接口电路 精密 圆度测量装置 微处理器 电连接 通用性强 低成本 高效率 窄带光 投射 平行 | ||
1.一种精密圆度测量装置，其特征在于：包括圆度测量模块，所述圆度测量模块包括机械连接件、窄带光源、CCD/CMOS采集芯片、CCD/CMOS信号处理电路单元、微处理器及数据传输接口电路，其中，所述窄带光源固定在所述机械连接件的一侧，所述CCD/CMOS采集芯片固定在所述机械连接件的另一侧，所述窄带光源投射平行窄带光至所述CCD/CMOS采集芯片，所述CCD/CMOS采集芯片与所述CCD/CMOS信号处理电路单元电连接，所述CCD/CMOS信号处理电路单元与所述微处理器及数据传输接口电路电连接。
2.根据权利要求1所述的精密圆度测量装置，其特征在于：所述CCD/CMOS采集芯片上设有滤光片，所述窄带光源投射平行窄带光通过所述滤光片后由所述CCD/CMOS采集芯片接收。
3.根据权利要求1所述的精密圆度测量装置，其特征在于： 所述CCD/CMOS信号处理电路单元、微处理器及数据传输接口电路设置在所述机械连接件上。
4.根据权利要求1所述的精密圆度测量装置，其特征在于：所述圆度测量模块连接有平移机构。
5.根据权利要求4所述的精密圆度测量装置，其特征在于：所述平移机构包括机床和刀架，所述机床与所述刀架连接，所述圆度测量模块固定在所述刀架上。
6.根据权利要求4所述的精密圆度测量装置，其特征在于：所述机床连接有滚筒。
7.根据权利要求1所述的精密圆度测量装置，其特征在于：所述微处理器及数据传输接口电路电连接有计算机。
8.一种精密圆度测量方法，其特征在于：通过窄带光源投射平行窄带光，并由CCD/CMOS采集芯片接收，得到被测量物的端面的部分数据，通过控制被测量物旋转一周采集各部位的数据，从而得到被测量物的端面的完整数据，得到被测量物的端面的圆度信息。
9.根据权利要求8所述的精密圆度测量，其特征在于：测量时，CCD/CMOS采集芯片平行于被测量物的端面，而且，CCD/CMOS采集芯片的中心与被测量物的轴心在同一水平面上。
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