[发明专利]一种在线监测半导体激光器退化的方法有效
申请号: | 201810301129.4 | 申请日: | 2018-04-04 |
公开(公告)号: | CN108521293B | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 杨鹏;王贵山;邱静;刘冠军;吕克洪;张勇 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 长沙中科启明知识产权代理事务所(普通合伙) 43226 | 代理人: | 任合明 |
地址: | 410003 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种在线监测半导体激光器退化的方法,目的是提供一种既能判断LD是否发生退化,又能判断LD的具体退化模式的方法。技术方案是构建由监测模块和诊断模块组成的LD退化监测系统,监测模块监测LD的工作参数即偏置电流、发射光功率和调制电流;诊断模块由数据收集子模块、参数计算子模块、诊断评估子模块构成,根据LD的工作参数计算可以判断LD退化模式的表征参数——阈值电流Ith和斜率效率k,并基于LD阈值电流和斜率效率诊断LD退化模式。采用本发明既能判断LD是否发生退化,又能判断LD的具体退化模式,且其采用的LD退化监测系统结构简单,易于实现。 | ||
搜索关键词: | 退化 退化模式 子模块 半导体激光器 监测模块 监测系统 斜率效率 在线监测 诊断模块 阈值电流 工作参数计算 发射光功率 表征参数 参数计算 调制电流 工作参数 偏置电流 数据收集 诊断评估 构建 诊断 监测 | ||
【主权项】:
1.一种在线监测半导体激光器退化的方法,其特征在于包括以下步骤:第一步,搭建LD退化监测系统,LD退化监测系统与需要监测的LD相连,由监测模块和诊断模块组成;监测模块与LD相连,监测LD的工作参数即偏置电流、发射光功率和调制电流;诊断模块与监测模块相连,从监测模块接收LD的工作参数,并利用这些工作参数对LD实施退化模式诊断,具体方法是:1.1构建监测模块,监测模块由偏置电流监测电路、发射光功率监测电路和调制电流监测电路构成,各监测电路独立工作,各监测电路均与数据收集子模块相连,监测模块构建方法是:1.1.1设计偏置电流监测电路和发射光功率监测电路,发射光功率监测电路对LD发射光功率进行监测,将监测到的发射光功率传递给数据收集子模块;偏置电流监测电路对LD偏置电流进行监测,将监测到的偏置电流传递给数据收集子模块;1.1.2采用内部集成电流镜电路的集成芯片作为调制电流监测电路,根据集成芯片的设计手册,将LD的调制电流引入集成芯片,并将调制电流监测电路与诊断模块相连;1.2构建诊断模块:诊断模块与监测模块相连,由数据收集子模块、参数计算子模块、诊断评估子模块构成;数据收集子模块与监测模块、参数计算子模块、诊断评估子模块相连,数据收集子模块从监测模块获取监测到的LD的工作参数,将这些工作参数进行模数转换,将模数转换后的偏置电流Ibias、发射光功率Pt和调制电流Imod发送给参数计算子模块,将模数转换后的偏置电流Ibias和发射光功率Pt发送给诊断评估子模块;参数计算子模块与数据收集子模块、诊断评估子模块相连,根据接收的偏置电流Ibias、发射光功率Pt和调制电流Imod计算阈值电流Ith和斜率效率k,将阈值电流Ith和斜率效率k发送给诊断评估子模块;诊断评估子模块与数据收集子模块、参数计算子模块相连,根据接收的偏置电流Ibias、发射光功率Pt判断LD是否发生退化,并根据接收的阈值电流Ith和斜率效率k诊断LD所发生的退化模式;第二步,LD退化监测系统对LD进行退化监测和诊断,方法是:2.1监测模块对LD进行监测,采集LD的偏置电流、发射光功率和调制电流,方法是:2.1.1发射光功率监测电路开始工作,监测LD的发射光功率;2.1.2偏置电流监测电路开始工作,监测LD的偏置电流;2.1.3调制电流监测电路开始工作,监测LD的调制电流;2.2数据收集子模块收集各监测电路监测到的LD偏置电流、发射光功率、调制电流,将这些工作参数进行模数转换,分别得到数字化的偏置电流Ibias、发射光功率Pt、调制电流Imod,将数字化的偏置电流Ibias、发射光功率Pt、调制电流Imod发送给参数计算子模块,将数字化的的偏置电流Ibias、发射光功率Pt发送给诊断评估子模块;2.3参数计算子模块从数据收集子模块获取偏置电流Ibias、发射光功率Pt和调制电流Imod,利用公式(1)计算LD阈值电流Ith和斜率效率k:
式中,Pt1和Pt0均为监测到经数据收集子模块模数转化后的LD发射光功率,Pt0是当调制电流为0时LD的发射光功率即当调制电流为0时Pt=Pt0,Pt1是当调制电流不为0时LD的发射光功率即当调制电流不为0时Pt=Pt1;2.4诊断评估子模块从数据收集子模块接收偏置电流Ibias、发射光功率Pt,同时从参数计算子模块获取LD阈值电流Ith和斜率效率k,按照以下步骤判断LD是否发生退化并诊断其退化模式:2.4.1依据出厂参数确定LD的工作模式,若LD采取恒功率模式,转2.4.2;若LD采取恒电流模式,转2.4.3;2.4.2将偏置电流Ibias同预先设定的正常范围进行比对,若偏置电流处于正常范围,转2.4.5;若偏置电流不处于正常范围,转2.4.4步;2.4.3将发射光功率Pt同预先设定的正常范围进行比对,若发射光功率处于正常范围,转2.4.5;若发射光功率不处于正常范围,转2.4.4步;2.4.4将从参数计算子模块获取的LD阈值电流Ith和斜率效率k同预先设定的正常范围进行比对,若仅阈值电流变大,转2.4.6;若仅斜率效率变小,转2.4.7;若同时出现阈值电流变大和斜率效率变小,转2.4.8;若出现其他情况,转2.4.9;2.4.5输出LD正常的指示,转第三步;2.4.6输出LD发生源区退化的指示,转第三步;2.4.7输出LD发生腔面退化的指示,转第三步;2.4.8输出LD发生有源区退化和腔面退化的指示,转第三步;2.4.9输出LD发生其他退化的指示,转第三步;第三步,结束。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科技大学,未经中国人民解放军国防科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810301129.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。