[发明专利]一种气孔空间分布分析方法在审
| 申请号： | 201810230179.8 | 申请日： | 2018-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN108363889A | 公开（公告）日： | 2018-08-03 |
| 发明（设计）人： | 郑云普;徐明;郝立华;郭丽丽;李菲;张茜茜 | 申请（专利权）人： | 河北工程大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 夏艳 |
| 地址： | 056000 *** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种气孔空间分布分析方法，本方法利用印迹法取出气孔印迹样品，通过电镜扫描得到气孔电镜扫描结构照片，使用x：y坐标表示的气孔点，利用空间统计分析方法Ripley’s K方程，并采用蒙特卡洛算法模拟随机分布点1000次，确定95％的可信任区间，最后将空间模式描述为集中、随机或规则。本方法提供一种稳定、易于理解的技术来分析气孔空间分布的方法，从而为进一步了解在外界环境影响下，气孔变化对光合作用的影响，为探讨植物/作物生理生态过程中气孔对环境的响应机理提供了分析方法。 | ||
| 搜索关键词： | 空间分布 电镜扫描 分析 光合作用 空间统计分析 作物生理生态 结构照片 空间模式 算法模拟 随机分布 外界环境 可信任 印迹法 中气孔 印迹 取出 响应 | ||
【主权项】：
1.一种气孔空间分布分析方法，其特征在于，利用印迹法取出气孔印迹样品，通过电镜扫描得到气孔电镜扫描结构照片，使用x：y坐标表示的气孔点，利用空间统计分析方法Ripley’s K方程，并采用蒙特卡洛算法模拟随机分布点1000次，确定95％的可信任区间，最后将空间模式描述为集中、随机或规则。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河北工程大学，未经河北工程大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810230179.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
