[发明专利]一种集成电路测试设备

摘要

本发明公开了一种集成电路测试设备，包括底座以及安装座体，所述底座顶部端面内设有贯穿所述底座前侧端面的转接腔，所述安装座体通过转动器转动配合设置在所述底座顶部端面内，所述安装座体顶部端面内设有用以安装芯片电路板的安装腔，所述安装腔内底壁内设有升降腔，所述升降腔下侧的所述安装座体内壁体中设有第一空腔，所述第一空腔左侧设有滑移腔，所述滑移腔左侧设有第二空腔，所述第二空腔上侧的所述安装腔左侧设有第三空腔，所述升降腔中滑动配合安装有升降块，所述升降块顶部延伸末端伸入所述安装腔中且末端固设有垫板，所述升降块底部端面内螺纹配合安装有第一螺纹杆。

主权项

1.一种集成电路测试设备，包括底座以及安装座体，所述底座顶部端面内设有贯穿所述底座前侧端面的转接腔，所述安装座体通过转动器转动配合设置在所述底座顶部端面内，所述安装座体顶部端面内设有用以安装芯片电路板的安装腔，所述安装腔内底壁内设有升降腔，所述升降腔下侧的所述安装座体内壁体中设有第一空腔，所述第一空腔左侧设有滑移腔，所述滑移腔左侧设有第二空腔，所述第二空腔上侧的所述安装腔左侧设有第三空腔，所述升降腔中滑动配合安装有升降块，所述升降块顶部延伸末端伸入所述安装腔中且末端固设有垫板，所述升降块底部端面内螺纹配合安装有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆向下延伸并与所述升降腔与所述第一空腔之间的壁体转动配合连接，所述第一螺纹杆底部延伸末端伸入所述第一空腔中且末端固设有第一锥齿轮，所述第一锥齿轮左侧端相互啮合设有第二锥齿轮，所述第二锥齿轮左侧端固设有第一转柱，所述转柱与所述第二空腔与所述第一空腔之间的壁体转动配合连接，所述转柱左侧延伸末端伸入所述第二空腔中且左侧端面内嵌设有第一花键腔，所述滑移腔中滑动配合安装有滑移座，所述滑移座顶端动力配合安装有动力切换机构，所述滑移座中固设有第一电机，所述第一电机右侧端动力配合安装有与所述第一花键腔花键配合连接的第一花键轴，所述第一电机左侧端动力配合安装有第二花键轴，所述滑移腔与所述第二空腔之间的壁体中转动配合安装有第二转柱，所述第二转柱右侧端面内设有与所述第二花键轴花键配合连接的第二花键腔，所述第二转柱左侧延伸末端伸入所述第二空腔中且末端固设有第三锥齿轮，所述第三锥齿轮左侧端面固设有转臂，所述转臂向左延伸并与所述第二空腔左侧内壁转动配合连接且向左伸入所述底座左侧端的传接腔中，伸入所述传接腔中的所述转臂末端固设有传接齿轮，所述传接腔下侧端固设有与所述传接齿轮相互啮合的固定齿轮，所述第三锥齿轮顶端动力配合安装有锁定机构。