[发明专利]LED老化测试装置

摘要

本发明涉及一种LED老化测试装置，包括载板、第一接线座、第二接线座、第一夹持件与第二夹持件。凹槽用于与第一型号LED待测样品的封装基板形状相适应，第一凸缘凸出于凹槽的底壁的高度小于所述凹槽侧壁相对于所述凹槽底壁的高度，第一凸缘与凹槽的底壁配合形成第一槽体。第一槽体用于与第二型号LED待测样品的封装基板形状相适应。第一夹持件用于夹持住LED待测样品的其中一个极板，第二夹持件用于夹持住LED待测样品的另一个极板。上述的LED老化测试装置，能够实现对两种型号的LED待测样品进行老化测试，从而使得测试成本降低。

主权项

1.一种LED老化测试装置，其特征在于，包括：载板，所述载板上设置有凹槽，所述凹槽用于与第一型号LED待测样品的封装基板形状相适应，所述凹槽的底壁上设有第一凸缘，所述第一凸缘凸出于所述凹槽的底壁的高度小于所述凹槽侧壁相对于所述凹槽底壁的高度，所述第一凸缘与所述凹槽的底壁配合形成第一槽体，所述第一槽体用于与第二型号LED待测样品的封装基板形状相适应；第一接线座、第二接线座、第一夹持件与第二夹持件，所述第一接线座、所述第二接线座均设置在所述载板上，所述第一接线座、所述第二接线座均位于所述凹槽的外侧，所述第一接线座与所述第一夹持件相连，所述第二接线座与所述第二夹持件相连，所述第一夹持件用于夹持住LED待测样品的其中一个极板，所述第二夹持件用于夹持住所述LED待测样品的另一个极板。