[发明专利]一种基于核共振荧光的脉冲γ射线能谱测量系统及方法有效
| 申请号： | 201810049783.0 | 申请日： | 2018-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN108267775B | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 魏坤;翁秀峰;黑东炜;盛亮;李斌康;谭新建;付竹明;孙彬 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 唐沛 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于核共振荧光的脉冲γ射线能谱测量系统及方法。该装置包括铅准直器、HPGe探测器以及特定靶片；所述铅准直器、特定靶片依次设置在待测脉冲γ射线的束流方向上；所述HPGe探测器位于待测脉冲γ射线的一侧且HPGe探测器与束流方向之间的夹角为90°‑120°；特定靶片包括多种靶材料叠加而成，且每一种靶材料的能级均位于待测脉冲γ射线的能量范围内。该方法包括：1)利用HPGe探测器探测待测脉冲γ射线核共振荧光过程中出射的光子数R；2)计算光子数密度；3)将光子数密度通过高斯拟合得到待测脉冲γ射线的能谱分布图。本发明的应用不仅使得脉冲γ射线能谱测量实验设置简单，后期计算简单并且测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 脉冲 射线 探测器 共振荧光 射线能谱 光子数 靶片 测量系统 铅准直器 靶材料 束流 测量精度高 能级 测量实验 高斯拟合 依次设置 分布图 夹角为 出射 能谱 叠加 探测 应用 | ||
【主权项】：
1.一种基于核共振荧光的脉冲γ射线能谱测量系统，其特征在于：包括铅准直器、HPGe探测器以及特定靶片；所述铅准直器、特定靶片依次设置在待测脉冲γ射线的束流方向上；所述HPGe探测器位于待测脉冲γ射线的一侧且HPGe探测器与束流方向之间的夹角为90°‑120°；所述特定靶片包括多种靶材料叠加而成，且每一种靶材料的能级均位于待测脉冲γ射线的能量范围内；每一种靶材料的厚度均为0.2‑0.5mm。
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