[发明专利]平面型AlGaN紫外探测器阵列结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201810049645.2 申请日: 2018-01-18
公开(公告)号: CN108257986A 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 赵文伯;叶嗣荣 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: H01L27/144 分类号: H01L27/144;H01L31/09;H01L31/18;H01L21/76
代理公司: 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 50221 代理人: 刘佳
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供一种平面型AlGaN紫外探测器阵列结构及其制作方法,该结构包括由下至上依次设置的衬底、缓冲层、下接触层、吸收层、阻挡层和上接触层,在上接触层上设置有延伸至下接触层的离子注入区,在离子注入区内注入He或B离子后形成电阻隔离区,电阻隔离区分隔形成的紫外线探测器像元阵列与电阻隔离区位于同一平面上;紫外探测器像元阵列的上表面设置有上电极,在上接触层上还设置有延伸至下接触层的沟槽,沟槽内形成有延伸至上接触层表面的下电极。本发明可以省略台面型AlGaN紫外探测器阵列制作中工艺要求较高的钝化步骤,从而可以降低工艺要求,提高互连集成的成品率。
搜索关键词: 紫外探测器 上接触层 下接触层 隔离区 电阻 工艺要求 像元阵列 阵列结构 平面型 离子 延伸 制作 紫外线探测器 离子注入区 钝化步骤 依次设置 成品率 缓冲层 接触层 上表面 台面型 吸收层 下电极 阻挡层 电极 互连 省略 衬底 分隔
【主权项】:
1.一种平面型AlGaN紫外探测器阵列结构,其特征在于,包括由下至上依次设置的衬底、缓冲层、下接触层、吸收层、阻挡层和上接触层,在所述上接触层上设置有延伸至所述下接触层的离子注入区,在所述离子注入区内注入He或B离子后形成电阻隔离区,所述电阻隔离区分隔形成的紫外线探测器像元阵列与所述电阻隔离区位于同一平面上;所述紫外探测器像元阵列的上表面设置有上电极,在所述上接触层上还设置有延伸至所述下接触层的沟槽,所述沟槽内形成有延伸至所述上接触层表面的下电极。
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