[发明专利]一种检测装置及检测方法

摘要

本发明公开了一种检测装置及检测方法，检测控制单元控制电流源与各检测线分时导通，并仅在一条检测线与电流源导通时，控制该检测线与检测输出单元导通，以使检测输出单元根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的检测线上的电压，向数据处理单元输出与导通的检测线对应的检测信号。数据处理单元根据各检测线对应的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值，从而在对像素进行外部补偿时，可以根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，以提高外部补偿计算得到的数据电压的精确度，提高画面显示效果。

主权项

1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；

所述检测控制单元用于在预设检测阶段中，控制所述电流源与电致发光显示面板中的各检测线分时导通；针对一条检测线，仅在所述检测线与所述电流源导通时，控制所述检测线与所述检测输出单元导通；

所述检测输出单元用于仅在与一条检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的所述检测线上的电压，向所述数据处理单元输出与导通的所述检测线对应的检测信号，以及在与导通的所述检测线断开时进行复位；其中，所述检测信号具有第一电位信号和第二电位信号；

所述数据处理单元用于接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值，并在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整；以及在所述预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测控制单元包括：第一开关以及与各所述检测线一一对应的第二开关；

各所述第二开关的第一端分别与对应的检测线电连接，各所述第二开关的第二端均与所述第一开关的第一端以及所述电流源电连接；

所述第一开关的第二端与所述检测输出单元电连接。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测输出单元包括：积分运算放大器、比较器以及第三开关；

所述积分运算放大器的正相输入端用于接收所述第一参考电压，负相输入端分别与所述检测控制单元以及所述第三开关的第一端电连接，输出端分别与所述第三开关的第二端以及所述比较器的第一输入端电连接；

所述比较器的第二输入端用于接收所述第二参考电压，所述比较器的输出端与所述数据处理单元电连接，用于输出所述检测信号。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，各所述像素包括像素电路；

所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；

所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。

5.如权利要求1‑4任一项所述的检测装置，其特征在于，所述数据处理单元包括：处理器：

所述处理器的输入端与所述检测输出单元电连接，用于接收所述检测信号。

6.一种显示装置，包括电致发光显示面板，其特征在于，还包括：如权利要求1‑5任一项所述的检测装置。

7.如权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述显示装置还包括：源极驱动芯片；所述检测装置中的检测控制单元与检测输出单元设置于所述源极驱动芯片中。

8.一种如权利要求1‑5任一项所述的检测装置的检测方法，其特征在于，包括：

在预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开；

控制电流源与各所述检测线分时导通，确定各所述检测线对应的检测信号；其中，针对一条检测线，所述检测控制单元仅控制所述检测线与所述电流源以及所述检测输出单元导通；所述检测输出单元在与所述检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及所述检测线上的电压输出所述检测线对应的检测信号；所述检测输出单元在所述电流源与所述检测线断开时进行复位；

接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，并根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值；

在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整。

9.如权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整，具体包括：

针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。

10.如权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整，具体包括：

针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。