[发明专利]智能芯片测试系统在审
| 申请号： | 201810002261.5 | 申请日： | 2018-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN108152701A | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 李奇宇 | 申请（专利权）人： | 成都智易通科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 成都路航知识产权代理有限公司 51256 | 代理人： | 李凌 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了智能芯片测试系统，包括：测试主机、连接线、测试连接端、第一固定支架、第二固定支架、第一固定圆环、第二固定圆环、第一固定柱、第二固定柱、第三固定柱、测试平台、第一滑轨、第二滑轨、第一收集箱、第二收集箱；解决了现有的芯片测试效率较低技术问题，实现了测试系统设计合理，芯片测试效率较高的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 固定柱 测试系统 固定圆环 固定支架 芯片测试 智能芯片 收集箱 滑轨 测试系统设计 连接线 测试连接 测试平台 测试主机 技术效果 | ||
【主权项】：
智能芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：测试主机、连接线、测试连接端、第一固定支架、第二固定支架、第一固定圆环、第二固定圆环、第一固定柱、第二固定柱、第三固定柱、测试平台、第一滑轨、第二滑轨、第一收集箱、第二收集箱；测试主机通过连接线与测试连接端连接，第一固定支架和第二固定支架的一端分别与测试连接端的左右侧面连接，第一固定支架和第二固定支架的另一端分别与第一固定圆环和第二固定圆环连接，第一固定柱、第二固定柱、第三固定柱分别固定在测试平台的左侧、中部、右侧，第一固定柱与第二固定柱之间的距离、第二固定柱与第三固定柱之间的距离、第一固定圆环与第二固定圆环之间的距离相等，测试平台上表面设有2个放置测试芯片的凹槽，第一滑轨上端与测试平台左侧连接，第一滑轨下端延伸至第一收集箱内，第二滑轨上端与测试平台右侧连接，第二滑轨下端延伸至第二收集箱内。
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