[发明专利]图像捕获装置、用图像捕获装置捕获图像的方法和照射装置在审
| 申请号： | 201780072390.5 | 申请日： | 2017-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN109983322A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 井辻健明;海部纪之 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581;A61B5/05;G01N21/01 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 宋岩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 图像捕获装置1001通过使用太赫兹波来捕获图像，并且包括：生成单元112，包括多个生成元件，每个生成元件生成太赫兹波并且支承在支承面117上；照射光学系统111，用太赫兹波照射被摄体；成像光学系统101，对从被摄体反射的太赫兹波成像；以及传感器102，包括像素。所述多个生成元件至少包括第一生成元件113和第二生成元件114，第一生成元件113和第二生成元件114具有对被摄体的不同照射角度。存在如下的重叠区域，在该重叠区域中从第一生成元件到被摄体的第一太赫兹波156的照射区域和从第二生成元件到被摄体的第二太赫兹波157的照射区域重叠。 | ||
| 搜索关键词： | 生成元件 太赫兹波 被摄体 图像捕获装置 捕获图像 照射区域 重叠区域 照射 成像光学系统 太赫兹波成像 照射光学系统 生成单元 照射装置 传感器 支承面 像素 支承 反射 | ||
【主权项】：
1.一种通过使用太赫兹波来捕获图像的图像捕获装置，该图像捕获装置包括：生成单元，包括多个生成元件，每个生成元件生成太赫兹波并且支承在支承面上；照射光学系统，用来自生成单元的太赫兹波照射被摄体；成像光学系统，对从被摄体反射的太赫兹波成像；和传感器，包括像素并且检测来自成像光学系统的太赫兹波，其中，所述多个生成元件至少包括第一生成元件和第二生成元件，第一生成元件和第二生成元件具有对被摄体的不同照射角度，并且其中，存在如下的重叠区域，在该重叠区域中，从第一生成元件到被摄体的第一太赫兹波的照射区域与从第二生成元件到被摄体的第二太赫兹波的照射区域重叠。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社，未经佳能株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780072390.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基材评价方法及弯曲玻璃评价装置
- 下一篇：红外光谱仪
- 同类专利
- 测定方法以及测定系统-201580023895.3
- 近藤孝志;神波诚治;河原直树;清水尚 - 株式会社村田制作所
- 2015-03-23 - 2019-10-18 - G01N21/3581
- 一种用于对被测定物的物质量进行测定的测定方法。包含：保持工序，在具有相互对置的一对主面且具有贯通两主面的多个空隙部的空隙配置构造体，通过使包含所述被测定物的试样流体通过，来保持所述被测定物；计时工序，对从所述保持工序开始时刻或者所述保持工序开始起经过了规定时间的时刻，到所述空隙配置构造体的特性值达到规定的阈值的时刻为止的经过时间进行测量；和定量工序，将所述经过时间换算为所述被测定物的所述物质量。
- 图像捕获装置、用图像捕获装置捕获图像的方法和照射装置-201780072390.5
- 井辻健明;海部纪之 - 佳能株式会社
- 2017-11-16 - 2019-07-05 - G01N21/3581
- 图像捕获装置1001通过使用太赫兹波来捕获图像，并且包括：生成单元112，包括多个生成元件，每个生成元件生成太赫兹波并且支承在支承面117上；照射光学系统111，用太赫兹波照射被摄体；成像光学系统101，对从被摄体反射的太赫兹波成像；以及传感器102，包括像素。所述多个生成元件至少包括第一生成元件113和第二生成元件114，第一生成元件113和第二生成元件114具有对被摄体的不同照射角度。存在如下的重叠区域，在该重叠区域中从第一生成元件到被摄体的第一太赫兹波156的照射区域和从第二生成元件到被摄体的第二太赫兹波157的照射区域重叠。
- 测定方法-201480019313.X
- 神波诚治;近藤孝志;濑户弘一;三浦佳子 - 株式会社村田制作所
- 2014-03-25 - 2017-10-27 - G01N21/3581
- 一种测定方法，对由混合物构成的检测体中包含的至少1种被测定物的有无或被测定物的量进行测定，包含第1捕捉工序，使用具有多个空隙部的第1空隙配置构造体，在所述第1空隙配置构造体对作为所述被测定物的1种的第1被测定物进行捕捉；第2捕捉工序，使用第2空隙配置构造体，对所述检测体中包含的夹杂物或者第2被测定物进行捕捉，所述第2空隙配置构造体具有多个空隙部，空隙部的大小以及表面的修饰状态中的至少任一者与所述第1空隙配置构造体不同；以及测定工序，在所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序之后，向所述第1空隙配置构造体、或者所述第1空隙配置构造体及所述第2空隙配置构造体，照射电磁波，对进行了散射的电磁波的特性进行检测。
- 成像系统-201480017517.X
- 石勉;须藤孝行;坪井琢 - 日本电气株式会社
- 2014-03-19 - 2015-11-18 - G01N21/3581
- 本发明提供了一种能够在高相干电磁波的波束被放大到规定的照射区域并且用于通过在比照射区域更窄的运动范围内移动规定的照射区域来照明的状态中减少对干涉图案的生成的成像系统。
- 专利分类
