[发明专利]调整对检查体的是否良好判定条件的方法及装置有效
| 申请号： | 201780070386.5 | 申请日： | 2017-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN109997028B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 具大成;金龙;朴基源 | 申请（专利权）人： | 株式会社高迎科技 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人： | 郑青松 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开一种用于调整对检查体的是否良好判定条件的方法及装置。用于调整是否良好判定条件的方法可以包括：获得多个检查体的结构的测量值的步骤；比较测量值相对于结构设计值的误差值与预定基准值，对多个检查体分别判定良好或不良的步骤；识别多个检查体中发生判定错误的一个以上检查体的步骤；生成并输出包括基于误差值的多个检查体的数、基准值、及发生判定错误的一个以上检查体的数的检查结果图表的步骤；根据检查结果图表上的图形式输入，更新基准值，以便减少判定错误的步骤；及比较误差值与更新的基准值，对多个检查体分别再次判定良好或不良的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 调整 检查 是否 良好 判定 条件 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于在包括数据库、处理部、使用者输入部及输出部的是否良好判定装置中调整对检查体的是否良好判定条件的方法，其中，包括：借助于所述处理部，从所述数据库获得多个检查体的结构的测量值的步骤；借助于所述处理部，比较所述测量值相对于所述结构设计值的误差值与预定的基准值，对所述多个检查体的各检查体判定良好或不良的步骤；借助于所述处理部，识别所述多个检查体中发生判定错误的一个以上的检查体的步骤，所述判定错误包括所述判定为良好的检查体被识别为不良的第一错误及所述判定为不良的检查体被识别为良好的第二错误；借助于所述处理部，生成包括基于所述误差值的所述多个检查体的数、所述基准值及所述发生判定错误的一个以上的检查体的数的检查结果图表，通过所述输出部输出所述检查结果图表的步骤；借助于所述处理部，根据在所述检查结果图表上的通过所述使用者输入部的图形式输入，更新所述基准值，以便减少所述发生判定错误的一个以上检查体的数的步骤；及借助于所述处理部，比较所述误差值与所述更新的基准值，对所述多个检查体的各检查体再次判定良好或不良的步骤。
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