[发明专利]自动化质谱库保留时间校正

摘要

使用DIA串联质谱方法来产生多个经测量产物离子质谱。从已知化合物质谱库中检索一或多个产物离子，或针对数据库的所述已知化合物计算一或多个理论产物离子。对于每一已知或理论产物离子，根据所述经测量产物离子质谱计算XIC。对于产生已知化合物子集的所述已知化合物，将高于阈值强度的经测量XIC峰值进行分组。针对所述已知化合物子集检索或计算已知或理论保留时间。将所述已知化合物子集的所述已知或理论保留时间用作自变量，且将所述已知化合物子集的所述经测量XIC峰值组的所述经测量保留时间用作因变量，来计算回归函数，以校正所述已知或理论保留时间。

主权项

1.一种用于自动地计算回归函数的系统，其用以描述在串联质谱数据非依赖性采集DIA实验中已知化合物的质谱库的已知保留时间如何随样本而变化，所述系统包括：分离装置，其随时间使多种化合物从样本分离；离子源，其从所述分离装置接收所述多种化合物并使所述多种化合物离子化，从而产生前体离子的离子束；串联质谱仪，其接收所述离子束，将所述离子束的质荷比m/z范围分为两个或更多个前体离子质量选择窗口，并在多次循环中的每一循环期间选择且碎裂所述两个或更多个前体离子质量选择窗口，从而产生多个经测量产物离子质谱；和处理器，其与所述串联质谱仪通信，所述处理器进行以下操作：(a)从所述串联质谱仪接收所述多个经测量产物离子质谱，(b)从已知化合物的质谱库中检索每一已知化合物的一或多种产物离子，(c)对于所述质谱库的每一已知化合物的每一产物离子，根据所述多个经测量产物离子质谱来计算所提取离子色谱图XIC，(d)将来自针对所述质谱库的每一已知化合物所计算的所述XIC的强度高于预定强度阈值的XIC峰值按所述经测量保留时间进行分组，针对具有强度高于所述预定强度阈值的经测量XIC峰值的所述质谱库的已知化合物子集产生一或多个经测量XIC峰值组，(e)从所述质谱库中检索所述已知化合物子集中的每一已知化合物的已知保留时间，以及(f)将所述已知化合物子集的所述已知保留时间用作自变量，且将所述已知化合物子集的所述经测量XIC峰值组的所述经测量保留时间用作因变量，来计算回归函数，以描述所述质谱库的所述已知保留时间如何在所述样本中变化。