[发明专利]带空隙校正的导电率传感器有效
申请号: | 201780049820.1 | 申请日: | 2017-08-17 |
公开(公告)号: | CN109564179B | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | M·R·戈德弗雷;E·托克图夫;J·埃里克森 | 申请(专利权)人: | 埃科莱布美国股份有限公司 |
主分类号: | G01N27/02 | 分类号: | G01N27/02;G01N27/08;G01N27/22;G01N27/07 |
代理公司: | 北京世峰知识产权代理有限公司 11713 | 代理人: | 卓霖;许向彤 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开可用于在测量流体的导电率时校正所述流体中空隙的存在的系统和方法。可以使用导电率传感器测量流体的所述导电率。电容电极可用于测量所述流体的电容。受所述流体影响的所测量到的电容可与所测量到的导电率结合使用,以确定补偿所述流体中可能的空隙的经校正的导电率值。其它参数,例如所述流体的组成或温度可用于确定经校正的导电率测量值。一些此类系统包含环形壳体并且可以插入或集成到流体流动系统中,使得待分析的流体流过由所述环形壳体限定的孔。 | ||
搜索关键词: | 空隙 校正 导电 传感器 | ||
【主权项】:
1.一种系统,其包括:导电率传感器,其用于测量流体样本的至少第一部分的导电率;第一电容电极;第二电容电极;以及控制器,其被配置为确定来自所述导电率传感器的测量到的导电率;确定所述第一电容电极和所述第二电容电极之间的测量到的电容;以及基于所述测量到的电容和所述测量到的导电率确定经校正的导电率测量值;其中,所述第一电容电极和所述第二电容电极被定位为使得所述第一电容电极和所述第二电容电极之间的所述电容受到所述流体样本的所述第一部分的影响。
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