[实用新型]一种圆晶测试系统有效

专利信息
申请号: 201721898763.8 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN207717920U 公开(公告)日: 2018-08-10
发明(设计)人: 游诗勇 申请(专利权)人: 福建福顺半导体制造有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 350000 福建省福州*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型实施例提供了一种圆晶测试系统,包括:主控制器、测试机、探针台、测试通道控制模块;所述主控器分别与所述测试机、所述探针台相连以及所述测试通道控制模块相连,所述主控器为单片机,所述主控器分别与所述测试机通过连接接口进行连接,控制所述测试机并接收所述测试机的测试结果,并将测试结果传送至所述探针台;测试通道控制模块通过驱动器发出继电器驱动信号,通过控制继电器的驱动信号进行测试通道的闭合选择。应用本实用新型,可以同时测试多颗器件,提高器件的测试效率。
搜索关键词: 测试机 测试通道控制 探针台 主控器 本实用新型 测试系统 继电器驱动信号 驱动器 控制继电器 闭合 测试通道 测试效率 连接接口 驱动信号 主控制器 单片机 传送 测试 应用
【主权项】:
1.一种圆晶测试系统,其特征在于,主控器、测试机、探针台、测试通道控制模块;所述主控器分别与所述测试机、所述探针台相连以及所述测试通道控制模块相连,所述主控器为单片机,所述主控器分别与所述测试机通过连接接口进行连接,控制所述测试机并接收所述测试机的测试结果,并将测试结果传送至所述探针台;测试通道控制模块通过驱动器发出继电器驱动信号,通过控制继电器的驱动信号进行测试通道的闭合选择。
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