[实用新型]光耦CTR测试装置有效
| 申请号： | 201721166701.8 | 申请日： | 2017-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN207148277U | 公开（公告）日： | 2018-03-27 |
| 发明（设计）人： | 王金刚 | 申请（专利权）人： | 上海剑桥科技股份有限公司;浙江剑桥电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所31283 | 代理人： | 胡美强,张冉 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种光耦CTR测试装置，包括第一可调电压源、第二可调电压源、第一电压表、第二电压表、第三电压表、第一电阻、第二电阻。第一可调电压源与第一电阻串联形成第一串联结构，第一串联结构用于与光耦的输入端连接。第二可调电压源与第二电阻串联形成第二串联结构，第二串联结构用于与光耦的输出端连接。第一电压表跨接于第一电阻两端。第二电压表跨接于第二电阻两端。第三电压表用于与光耦的输出端连接。本实用新型的光耦CTR测试装置可以达到较高的精度，并且成本较现有技术大幅降低。 | ||
| 搜索关键词： | ctr 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种光耦CTR测试装置，其特征在于，所述光耦CTR测试装置包括：第一可调电压源、第二可调电压源、第一电压表、第二电压表、第三电压表、第一电阻、第二电阻；所述第一可调电压源与所述第一电阻串联形成第一串联结构，所述第一串联结构用于与光耦的输入端连接；所述第二可调电压源与所述第二电阻串联形成第二串联结构，所述第二串联结构用于与所述光耦的输出端连接；所述第一电压表跨接于所述第一电阻两端，用于测量所述第一电阻两端的电压；所述第二电压表跨接于所述第二电阻两端，用于测量所述第二电阻两端的电压；所述第三电压表用于与所述光耦的输出端连接。
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