[实用新型]一种复印机框架形位公差测量装置

摘要

本实用新型公开了一种复印机框架形位公差测量装置，包括料台，所述的料台连接有定位机构，所述定位机构的底部设有底部测量单元，所述定位机构的顶部设有顶部测量单元，所述定位机构的左侧设有左侧测量单元，所述定位机构的右侧设有右侧测量单元，所述定位机构的背部设有背部测量单元，所述的测量单元各连接有一个驱动装置，所述料台的左侧设有操作台。本实用新型的有益效果本装置测量一件产品大约5‑10sec即可完成，测量后数据直接在操作台屏幕上显示出测量值以及判定结果，可以实现在线的全检，且对作业员没有要求；同时效率高，出错率低。

主权项

一种复印机框架形位公差测量装置，其特征在于，包括料台（2），所述的料台（2）连接有定位机构，所述定位机构的底部设有底部测量单元（7），所述定位机构的顶部设有顶部测量单元（4），所述定位机构的左侧设有左侧测量单元（3），所述定位机构的右侧设有右侧测量单元（5），所述定位机构的背部设有背部测量单元（7），所述的测量单元各连接有一个驱动装置，所述料台（2）的左侧设有操作台（1）。