[实用新型]一种用于轨道侧面磨耗检测的装置有效

专利信息
申请号: 201720778719.7 申请日: 2017-06-30
公开(公告)号: CN206832201U 公开(公告)日: 2018-01-02
发明(设计)人: 舒丛丛 申请(专利权)人: 深圳新誉德泰技术有限公司
主分类号: G01B11/245 分类号: G01B11/245
代理公司: 四川力久律师事务所51221 代理人: 熊晓果,张伟
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种用于轨道侧面磨耗检测的装置,其包括左二维激光断面扫描仪、右二维激光断面扫描仪、左轮廓信号放大电路、右轮廓信号放大电路、同步采样电路、以及标准轮廓差分电路;通过左二维激光断面扫描仪和右二维激光断面扫描仪分别获取左轮廓信号和右轮廓信号,并通过标准轮廓差分电路获取轨道侧面的磨耗值。该装置能够快速实现非接触式测量,且检测精度高,抗干扰能力强,检测效率高。
搜索关键词: 一种 用于 轨道 侧面 磨耗 检测 装置
【主权项】:
一种用于轨道侧面磨耗检测的装置,其特征在于,所述装置包括:左二维激光断面扫描仪、右二维激光断面扫描仪、左轮廓信号放大电路、右轮廓信号放大电路、同步采样电路、以及标准轮廓差分电路;其中,左二维激光断面扫描仪设置在轨道左侧,固定于左垂直悬臂末端的安装卡槽内,通过RS485或以太网信号线向左轮廓信号放大电路发送左轮廓信号;右二维激光断面扫描仪设置在轨道右侧,固定于右垂直悬臂末端的安装卡槽内,通过RS485或以太网信号线向右轮廓信号放大电路发送右轮廓信号;左轮廓信号放大电路和右轮廓信号放大电路分别用于对左轮廓信号核右轮廓信号进行放大处理并发送给同步采样电路;同步采样电路用于根据预设的采用频率获取轨道的截面轮廓;标准轮廓差分电路用于根据存储的标准轮廓与截面轮廓进行差分处理,获取轨道侧面的磨耗值。
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