[实用新型]用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘有效
| 申请号： | 201720556254.0 | 申请日： | 2017-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN206709771U | 公开（公告）日： | 2017-12-05 |
| 发明（设计）人： | 李子帙;江志聪 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | G01B5/30 | 分类号： | G01B5/30;G01B5/20 |
| 代理公司： | 哈尔滨东方专利事务所23118 | 代理人： | 陈晓光 |
| 地址： | 150080 黑龙江省*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘。形变固定率是决定形状记忆材料使用的另一重要指标，反映形状记忆材料在二次成型后保持其形状的能力，它的大小直接影响二次成型制品在使用中的存放与保管。因而是研究形状记忆高分子材料的一种有力手段。一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，其组成包括试样形变度量标尺（1）和试样度量支撑底盘（2），试样形变度量标尺与试样贴紧，试样形变度量标尺与试样度量支撑底盘靠两个平行凹凸槽联结固定，试样度量支撑底盘内嵌入有形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率被测试样。本实用新型应用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 高分子材料 形状 回复 固定 | ||
【主权项】：
一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，其组成包括：试样形变度量标尺和试样度量支撑底盘，其特征是：所述的试样形变度量标尺与试样贴紧，试样形变度量标尺与试样度量支撑底盘靠两个平行凹凸槽联结固定，所述的试样度量支撑底盘内嵌入有形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率被测试样，所述的试样形变度量标尺的尺寸与相关试样相对应，所述的试样形变度量标尺的刻度与相关加热干燥箱试样相对应。
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