[实用新型]形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置有效
申请号: | 201720556253.6 | 申请日: | 2017-05-18 |
公开(公告)号: | CN206740065U | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 李子帙;江志聪 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01B5/30 | 分类号: | G01B5/30;G01B5/20 |
代理公司: | 哈尔滨东方专利事务所23118 | 代理人: | 陈晓光 |
地址: | 150080 黑龙江省哈*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置。高聚物的电学性能往往非常灵敏地反映了材料内部结构的变化,因而是研究形状记忆高分子材料的一种有力手段。一种形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置,其组成包括度量支撑底板(1)和形变度量标尺(2),形变度量标尺由度量支撑底板支撑,度量支撑底板的上表面平行设置有凹槽,形变度量标尺的下表面的两侧平行设置有与凹槽相匹配的凸起结构,形变度量标尺的凸起结构能够在度量支撑底板的凹槽内上下移动,形变度量标尺中心线与度量支撑底板的中心线重合。本实用新型应用于形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置。 | ||
搜索关键词: | 形状 记忆 高分子材料 回复 固定 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置,其组成包括:度量支撑底板和形变度量标尺,其特征是:所述的形变度量标尺由所述的度量支撑底板支撑,所述的度量支撑底板的上表面平行设置有凹槽,所述的形变度量标尺的下表面的两侧平行设置有与凹槽相匹配的凸起结构,所述的形变度量标尺的凸起结构能够在所述的度量支撑底板的凹槽内上下移动,所述的形变度量标尺中心线与所述的度量支撑底板的中心线重合。
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