[实用新型]一种用于校验测斜仪的测试平台有效

专利信息
申请号: 201720505081.X 申请日: 2017-05-08
公开(公告)号: CN206709856U 公开(公告)日: 2017-12-05
发明(设计)人: 黄俊文;周红星 申请(专利权)人: 中交四航工程研究院有限公司;广州港湾工程质量检测有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司44100 代理人: 刘菁菁
地址: 510230 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供了一种用于校验测斜仪的测试平台,其包括水平调节基座、角度定位板及测斜仪平面校准板,角度定位板直立固定于水平调节基座之上,角度定位板上开设有若干个角度定位孔,角度定位孔可拆卸地连接有角度定位杆,测斜仪平面校准板底部具有一轴部,测斜仪平面校准板可通过底部的轴部在竖直平面内转动,测斜仪固定于侧斜仪平面校准板,测斜仪随测斜仪平面校准板倾斜时,测斜仪所测出的角度与测斜仪平面校准板所形成的预设的倾斜角度进行核查对比。本实用新型提供了一种成本低、快速简便而且能作量值传递的标准器具对测斜仪进行校验,保证测斜仪测量数据的准确可靠。
搜索关键词: 一种 用于 校验 测斜仪 测试 平台
【主权项】:
一种用于校验测斜仪的测试平台,其特征在于包括:—水平调节基座、—角度定位板及—测斜仪平面校准板,所述水平调节基座具有一水平面,所述角度定位板直立固定于水平调节基座之上,角度定位板上开设有若干个角度定位孔,角度定位孔可拆卸地连接有角度定位杆,所述测斜仪平面校准板底部具有一轴部,所述轴部可转动地安装于一对微调支座,微调支座固定于所述水平调节基座,测斜仪平面校准板可通过底部的轴部在竖直平面内转动,测斜仪平面校准板上部倚托于所述角度定位杆从而形成预设的倾斜角度,测斜仪固定于侧斜仪平面校准板,测斜仪随测斜仪平面校准板倾斜时,测斜仪所测出的角度与测斜仪平面校准板所形成的预设的倾斜角度进行核查对比。
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