[实用新型]一种利用光强分布信息测量高斯型涡旋光拓扑荷的装置

摘要

本实用新型涉及一种利用光强分布信息测量高斯型涡旋光拓扑荷的装置，属于光测量领域。该装置利用He‑Ne激光器产生强度稳定的高斯光束，所述高斯光束在空间光调制器的作用下附着上涡旋相位，成为高斯型涡旋光。所述高斯型涡旋光经过圆孔和中性密度滤光片后被移除杂光，然后被CCD检测器接收。所述CCD检测器接收的光强信息将被传输至计算机。计算机对所述光强信息进行傅里叶变换，得到涡旋光光强在频域空间的分布图样。该图样的暗环数量即是高斯型涡旋光的拓扑荷值。本实用新型的优点不需要大量的光学元件，不需要严格校准，运行速度快，可以实现较大拓扑荷值的测量。

主权项

一种利用光强分布信息测量高斯型涡旋光拓扑荷的装置，在结构上至少包括He‑Ne激光器(1)、分束器(2)、空间光调制器(3)、计算机1(4)、圆孔(5)、中性密度滤光片(6)、CCD检测器(7)、计算机2(8)，其特征是：He‑Ne激光器(1)产生强度稳定的高斯光束，并进入分束器(2)；所述分束器(2)的透射光束进入空间光调制器(3)；该光束被空间光调制器(3)反射并重新进入分束器(2)，然后从分束器(2)的反射光路出射；所述空间光调制器(3)与计算机1(4)连接；计算机1(4)控制空间光调制器(3)的叉型模式，使得空间光调制器(3)的出射光束携带有涡旋相位；从所述分束器(2)反射光路出射的光束经圆孔(5)、中性密度滤光片(6)进入CCD检测器(7)；CCD检测器(7)记录下入射光束的光强数据并传输至计算机2(8)。