[发明专利]获知热状态下真空电子器件参数变化状况的方法及系统有效
| 申请号： | 201711498733.2 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108268708B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 孙小菡;张劲 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G06F30/17 | 分类号： | G06F30/17;G06F119/08 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 211100 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种能够精确获知热状态下真空电子器件参数变化状况的方法及系统。首先建立真空电子器件模型计算其注波互作用；根据注波互作用获得的热源参数进行热分析；根据热分析获得的温度分布计算热形变参数；根据热形变参数修正所述真空电子器件模型重新计算注波互作用，获得真空电子器件在热状态下的性能参数。本发明通过热形变参数修正热状态下真空电子器件模型的参数，最终形成注波互作用‑热‑热形变‑注波互作用的协同分析环路。通过该闭环系统，本发明可以全面地分析工作状态下，尤其是热状态下，真空电子器件的工作特性，能够精确获知热状态对真空电子器件性能的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 获知 状态 真空 电子器件 参数 变化 状况 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种获知热状态下真空电子器件参数变化状况方法，其特征在于，步骤包括：第一步，建立真空电子器件模型，输入所述真空电子器件的工作参数，计算工作状态下所述真空电子器件的注波互作用，获得热源参数；第二步，将所述热源参数输入所述真空电子器件模型，进行热分析，获得所述真空电子器件的温度分布；第三步，根据所述真空电子器件的温度分布计算热形变参数，按照所述热形变参数修正所述真空电子器件模型；第四步，根据所述第三步修正后的所述真空电子器件模型，重新输入所述真空电子器件的工作参数，计算工作状态下所述真空电子器件的注波互作用，获得所述真空电子器件的性能参数。
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