[发明专利]示波器,基于欠采样对频率准确度进行校正的方法、系统有效

专利信息
申请号: 201711498644.8 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108572345B 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 张传民;宋民;朱宇通;李智华 申请(专利权)人: 深圳市鼎阳科技股份有限公司
主分类号: G01R35/02 分类号: G01R35/02
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 郭燕
地址: 518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种示波器,基于欠采样对频率准确度进行校正的方法、系统;其中,所述方法先设置采样频率,并以所述采样频率对接收的标准频率信号进行欠采样;进而测量欠采样得到的采样信号的频率;将采样信号的频率作为自身时钟频率与标准频率的频差;从而根据所述频差,调整时钟频率,实现了对频率准确度的校正。由于采用欠采样,极大的降低了采样频率,简化了对频率准确度的校正步骤,减少了对高精度高采样率测频率仪器的需求,有利于降低生产成本和示波器设计难度。
搜索关键词: 示波器 基于 采样 频率 准确度 进行 校正 方法 系统
【主权项】:
1.一种基于欠采样对频率准确度进行校正的方法,其特征在于,包括如下步骤:欠采样步骤,设置采样频率,并以所述采样频率对接收的标准频率信号进行欠采样;频差计算步骤,测量欠采样得到的采样信号的频率;将所述频率作为自身时钟频率与标准频率的频差;频率调整步骤,根据所述频差,调整时钟频率。
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