[发明专利]电路板故障检测方法和装置、计算机设备和存储介质有效
申请号: | 201711488840.7 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108169664B | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 欧阳云轩;王星;张恂;翟学涛;杨朝辉;高云峰 | 申请(专利权)人: | 深圳市大族数控科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 518101 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种电路板故障检测方法和装置、计算机设备和存储介质。该方法包括:以基准网络为参考电极获取待测电路板的测试点电容,根据测试点电容得到网络电容,根据测试点电容和网络电容进行故障检测,生成第一故障检测信息。通过以基准网络为参考电极获取待测电路板的测试点电容,并根据所述测试点电容得到网络电容,进而根据所述测试点电容和所述网络电容实现对电路板的故障检测,通过检测电容的方式能够实现对电路板细微故障的检测,进而提高了电路板故障检测的精度。 | ||
搜索关键词: | 电路板 故障 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
以基准网络为参考电极获取待测电路板的测试点电容;
根据所述测试点电容得到网络电容;
根据所述测试点电容和所述网络电容进行故障检测,生成第一故障检测信息。
2.根据权利要求1所述的电路板故障检测方法,其特征在于,所述根据所述测试点电容和所述网络电容进行故障检测,生成第一故障检测信息的步骤,包括:将所述测试点电容与测试点电容样本进行比较,得到异常测试点;
根据所述异常测试点生成第一开路故障信息;
将所述网络电容与网络电容样本进行比较,得到异常网络;
根据所述异常网络生成第一短路故障信息;
根据所述第一开路故障信息和所述第一短路故障信息生成第一故障检测信息。
3.根据权利要求2所述的电路板故障检测方法,其特征在于,所述将所述测试点电容与测试点电容样本进行比较,得到异常测试点的步骤,包括:将所述测试点电容与测试点电容样本进行比较,得到第一偏差值;
当检测到所述第一偏差值大于第一阈值时,获取所述第一偏差值对应的异常测试点。
4.根据权利要求2所述的电路板故障检测方法,其特征在于,所述将所述网络电容与网络电容样本进行比较,得到异常网络的步骤,包括:将所述网络电容与网络电容样本进行比较,得到第二偏差值;
当检测到所述第二偏差值大于第二阈值时,获取所述第二偏差值对应的异常网络。
5.根据权利要求2所述的电路板故障检测方法,其特征在于,所述根据所述第一开路故障信息和所述第一短路故障信息生成第一故障检测信息的步骤之后,还包括:获取所述异常测试点对应网络的第一网络电阻;
根据所述第一网络电阻得到第二开路故障信息;
获取所述异常网络的第二网络电阻;
根据所述第二网络电阻得到第二短路故障信息;
根据所述第二开路故障信息和所述第二短路故障信息,生成第二故障检测信息。
6.根据权利要求5所述的电路板故障检测方法,其特征在于,所述根据所述第二开路故障信息和所述第二短路故障信息,生成第二故障检测信息的步骤之后,还包括:根据所述第二故障检测信息得到非异常测试点和非异常网络;
根据所述非异常测试点的测试点电容更新所述测试点电容样本,根据所述非异常网络的网络电容更新所述网络电容样本。
7.根据权利要求1所述的电路板故障检测方法,其特征在于,所述以基准网络为参考电极获取待测电路板的测试点电容的步骤之前,还包括:分别以各投影网络为参考电极获取样本电路板中各网络的网络电容集合;
获取各网络的所述网络电容集合中最大电容值对应的投影网络,得到各网络的基准网络。
8.一种电路板故障检测装置,其特征在于,包括:测试点电容模块,用于以基准网络为参考电极获取待测电路板的测试点电容;
网络电容模块,用于根据所述测试点电容得到网络电容;
第一故障模块,用于根据所述测试点电容和所述网络电容进行故障检测,生成第一故障检测信息。
9.一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,处理器执行程序时实现权利要求1‑7任一项所述的电路板故障检测方法。10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1‑7任一项所述的电路板故障检测方法。该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市大族数控科技有限公司,未经深圳市大族数控科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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