[发明专利]一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统在审

专利信息
申请号: 201711479359.1 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108592804A 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 陈忠友;卫中科;杜运朝;方霞;张锐 申请(专利权)人: 宁国市裕华电器有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;H01G4/32;H01G4/33
代理公司: 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 代理人: 段晓微;叶美琴
地址: 242300 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统,包括:平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风;激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光;激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光;警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息;标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记。
搜索关键词: 检测 金属化薄膜 激光检测 激光 薄膜厚度检测 激光反射 平铺 激光发射模块 标记模块 吹风模块 警报模块 警示信息 吹风 反射 采集 发射
【主权项】:
1.一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统,其特征在于,包括:平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风;激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光;激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光;警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息;标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记。
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