[发明专利]基于集成芯片的包络检波装置在审
申请号: | 201711453764.6 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN108169637A | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 龚伟 | 申请(专利权)人: | 重庆臻远电气有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 王记明 |
地址: | 400000 重庆市九龙坡区*** | 国省代码: | 重庆;50 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了基于集成芯片的包络检波装置,包括集成芯片、高通滤波模块、低通滤波模块、放大模块和检波模块,所述集成芯片的输入端连接信号输入,集成芯片的输出端练级高通滤波模块,高通滤波模块连接低通滤波模块,所述低通滤波模块连接放大模块,所述放大模块连接检波模块,检波芯片的输出端加装低通滤波器,解决在实行包络检波的时候,高频信号的叠加干扰的问题。 1 | ||
搜索关键词: | 集成芯片 低通滤波模块 高通滤波模块 放大模块 检波 包络检波装置 输出端 低通滤波器 输入端连接 包络检波 高频信号 信号输入 加装 叠加 芯片 | ||
【主权项】:
1.基于集成芯片的包络检波装置,其特征在于,包括集成芯片、高通滤波模块、低通滤波模块、放大模块和检波模块,所述集成芯片的输入端连接信号输入,集成芯片的输出端练级高通滤波模块,高通滤波模块连接低通滤波模块,所述低通滤波模块连接放大模块,所述放大模块连接检波模块。2.根据权利要求1所述的基于集成芯片的包络检波装置,其特征在于,所述集成芯片为ADL5511集成芯片。3.根据权利要求1所述的基于集成芯片的包络检波装置,其特征在于,所述高通滤波模块采用无源高通滤波器。4.根据权利要求1所述的基于集成芯片的包络检波装置,其特征在于,所述低通滤波模块截止频率为1500Mhz。5.根据权利要求1所述的基于集成芯片的包络检波装置,其特征在于,所述放大模块固定放大40DB。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆臻远电气有限公司,未经重庆臻远电气有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711453764.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种贴片光耦耐压测试的工装
- 下一篇:一种带电检测局部放电缺陷类型判定的方法