[发明专利]基于集成芯片的包络检波装置

说明书

本发明公开了基于集成芯片的包络检波装置，包括集成芯片、高通滤波模块、低通滤波模块、放大模块和检波模块，所述集成芯片的输入端连接信号输入，集成芯片的输出端练级高通滤波模块，高通滤波模块连接低通滤波模块，所述低通滤波模块连接放大模块，所述放大模块连接检波模块，检波芯片的输出端加装低通滤波器，解决在实行包络检波的时候，高频信号的叠加干扰的问题。

技术领域

本发明涉及一种包络检波装置，具体涉及基于集成芯片的包络检波装置。

背景技术

气体绝缘全封闭组合电器(GIS)一旦带电投运以后，虽然有故障少可靠性高的特点，但是也存在潜在故障难以检测的问题，UHF超高频局放在线监测技术作为有效检测运行中GIS的绝缘状况的技术手段近年来大受推广。

由于局部放电产生的电磁波信号频段大多位于0.3GHZ---1.5GHZ之间，如果采集全放电波形，根据奈奎斯特定律，数据采集系统的采样率至少要达到3GS/S，此类ADC芯片由于禁运等原因采购十分困难，即使能够采购价格也十分高昂。因此市场上的UHF局放在线监测系统大多采用检波降频后再进行数据采集的方式，通过检波降频的方式可将原始信号的频率从GHZ级降到几十MHZ级。

目前市场上常用的检波手段有二种：

基于二极管的包络检波技术。

基于集成对数检波芯片的对数检波技术。

二极管包络检波检波方式原理简单，原始信号包络跟踪效果较好，但是此方式受二极管的限制，存在动态范围小、灵敏度低的缺点。

集成对数检波芯片虽然有动态范围大，灵敏度高的优点，但是其输出与输入存在严格的线性关系，且输出范围小，如果采样芯片的精度达不到要求或者外围电路处理不好的话，其灵敏度高的特点显现不出来。

发明内容

本发明目的在于提供基于集成芯片的包络检波装置，解决在实行包络检波输出信号时候，高频信号的叠加干扰的问题。

本发明通过下述技术方案实现：

基于集成芯片的包络检波装置，包括集成芯片、高通滤波模块、低通滤波模块、放大模块和检波模块，所述集成芯片的输入端连接信号输入，集成芯片的输出端练级高通滤波模块，高通滤波模块连接低通滤波模块，所述低通滤波模块连接放大模块，所述放大模块连接检波模块，检波芯片的输出端加装低通滤波器，解决在实行包络检波输出信号时候，高频信号的叠加干扰的问题。

进一步的，所述集成芯片为ADL5511集成芯片。基于成熟的集成芯片ADL5511开发，区别与前期市场上常用的二极管及对数检波技术，信号包络跟踪准确，失真度低，完美反映了局放信号的包络，在芯片的输出端，如果不加额外的低通滤波装置，会导致输出信号上叠加高频信号，通过加RC组成的低通滤波器，可以完美去除输出信号中叠加的高频噪音成分，得到完美的信号包络输出。

进一步的，所述高通滤波模块采用有源高通滤波器，这类滤波器的优点是：通带内的信号不仅没有能量耗损，而且还可以放大，负载效应不明显，多级相连时相互影响很小，利用级联的简单方法很容易构成高阶滤波器，并且滤波器的体积小，重量轻，不需要屏蔽。

进一步的，所述低通滤波模块截止频率为1500Mhz。保证低通滤波的效果更加明显。

进一步的，所述放大模块固定放大40DB，所述放大倍数有利于包络检测。

本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：

1、本发明基于集成芯片的包络检波装置，一是解决在高频信号的包络检波输出，以降低信号频率，二是解决输出的包络信号中高频信号的叠加干扰的问题；

2、本发明基于集成芯片的包络检波装置，技术成熟，优点突出；