[发明专利]多头测量设备量测点位自动分配方法

摘要

本发明提供一种多头测量设备量测点位自动分配方法，包括获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标的步骤；对所述点位坐标进行分组的步骤；将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构的步骤；根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标的步骤；逐一将所有需量测位置的点位坐标，匹配至所述支架机构和所述量测头机构，完成量测点位的分配；本发明提出的多头测量设备量测点位自动分配方法，能够精准、快速地将量测点位自动分配给对应的量测机构，且保证各量测机构之间在安全距离中允许，避免出现量测机构碰撞导致的设备宕机问题。

主权项

1.多头测量设备量测点位自动分配方法，所述多头测量设备用以测量彩膜表面垫料高度，所述多头测量设备包括可沿Y轴方向移动的支架机构，以及设置在所述支架上、且可沿X轴方向移动的量测头机构；其特征在于，所述方法包括：S10，获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标；S20，对所述点位坐标进行分组，其中，将Y轴坐标中差异性较小的点位分为一组，以满足两相对的所述支架机构的同时量测；S30，将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构，两所述支架机构间保持安全距离；S40，根据所述分组排列顺序，从优先级最大的Y轴坐标开始匹配至所述支架机构；S50，根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。S60，逐一将所有需量测位置的点位坐标，匹配至所述支架机构和所述量测头机构，完成量测点位的分配。