[发明专利]一种提高万用表测量精度的方法和万用表在审
申请号: | 201711434465.8 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN108572272A | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 陈嘉锋;钱柏年;周云海 | 申请(专利权)人: | 深圳市鼎阳科技有限公司 |
主分类号: | G01R15/12 | 分类号: | G01R15/12 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 郭燕 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种提高万用表测量精度的方法和万用表,提高万用表测量精度的方法包括:ADC以采样率M对万用表检测的模拟信号进行采集,得到数字化的测量数据;第一处理器以平均采样个数N为滑动长度对测量数据进行滑动平均处理,得到滑动平均数据,N为根据预设的万用表的测量精度而得到的值;第二处理器以M/K为间隔抽取滑动平均数据,得到待显示数据,K为万用表的测量速率;输出待显示数据。由于通过滑动平均处理和对得到的滑动平均数据的抽取处理,能够将万用表的测量精度和测量速率分开而互不影响,使得在提高万用表测量精度的同时不需要降低万用表的测量速率。 | ||
搜索关键词: | 万用表 测量 滑动平均 待显示数据 测量数据 抽取 第二处理器 第一处理器 模拟信号 采样率 滑动 采样 预设 数字化 采集 输出 检测 | ||
【主权项】:
1.一种提高万用表测量精度的方法,其特征在于,包括:模数转换器以采样率M对万用表检测的模拟信号进行采集,得到数字化的测量数据,所述M为大于0的整数;第一处理器以平均采样个数N为滑动长度对所述测量数据进行滑动平均处理,得到滑动平均数据,所述N为大于0的整数,所述N为根据预设的万用表的测量精度而得到的值;第二处理器以M/K为间隔抽取所述滑动平均数据,得到待显示数据,所述K为万用表的测量速率,所述K和M/K均为大于0的整数;输出所述待显示数据。
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